Микроскопы, входящие в состав аппаратно-программных комплексов для анализа качества металлов и сплавов должны отвечать следующим основным требованиям:
- тип прибора: инвертированный металлографический;
- настройка освещенности по Келеру;
- реализуемые методы контрастирования: светлое поле (отраженный свет), другие методы контрастирования, в зависимости от задач Пользователя: темное поле, поляризация, ДИК (отраженный свет);
- моторизованный стол для ускорения процедуры анализа большого количества полей зрения;
- тринокулярный тубус с С-mount адаптером для установки цифровой камер.
Компания «АргусСофт» рекомендует следующие модели микроскопов к поставке в составе аппаратно-программных комплексов для анализа микроструктуры различных материалов:
Axio Vert A1 (Carl Zeiss). www.zeiss.com
DMI 3000 M (Leica Microsystems). www.leica-microsystems.com
GX51 P (Olympus). www.olympus-ims.com
ECLIPSE MA100 и МА100 L (Nikon). ww.nikon.com
IM 7000 (Meiji Techno). www.meijitechno.com
Axio Observer (Carl Zeiss). www.zeiss.com
DMI 8 (Leica Microsystems). www.leica-microsystems.com
GX71 P (Olympus). www.olympus-ims.com
MA 200 (Nikon). www.nikon.com
MT 7500 (Meiji Techno). www.meijitechno.com